Voll-automatisches Präzisions-Kontaktwinkel-Goniometer

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Anwendungsbereich

Wird zur Bewertung fester Oberflächenbehandlungen, zur Analyse von Plasmareinigungseffekten, zur Beurteilung der Oberflächenreinheit, zur Untersuchung von Fest-Flüssigkeits-Hafteigenschaften, zur Gestaltung von Flüssigkeitsformulierungen und zur Charakterisierung der Bedruckbarkeit von Oberflächen verwendet. Es eignet sich auch zur Analyse von Oberflächenmodifikationen und zur Untersuchung der Benetzbarkeit auf Glas-, Kunststoff- oder Metalloberflächen. Die Kontaktwinkelmessung ist zu einem unverzichtbaren Instrument zur Bewertung von Oberflächeneigenschaften in Branchen wie der Mobiltelefonherstellung, Glasproduktion, Oberflächenbehandlung, Materialforschung, Chemietechnik, Halbleiterherstellung, Beschichtungen und Tinten, elektronischen Schaltkreisen, Textilien und Fasern sowie medizinischen und biologischen Anwendungen geworden.

Technische Spezifikationen

Eingangsleistung	220 V, 50–60 Hz
Stromverbrauch	10W
Methode zur Tröpfchenabgabe	Automatisch
Abgabegeschwindigkeit	0.01–25 μL/s
Genauigkeit des Tröpfchenvolumens	0.01 μL
Bildsensor	1/2,7" Global-Scan-CMOS
Erfassungsintervall	500–3.600.000 ms
Lichtquelle	In den USA-hergestellte blaue Kaltlichtquelle in Industriequalität
Optische Kombination	Aus Japan importierter Quarzdiffusionsfilm für gleichmäßigere Helligkeit und klarere Tröpfchenkontur
Lebensdauer	Über 50.000 Stunden
Helligkeitsanpassung	Digitale PWM-Steuerung + Softwareanpassung
Methoden zur Messung des Kontaktwinkels	Pendant-Drop-Methode, Sessile-Drop-Methode usw.
Messbereich	0 Grad < θ < 180 Grad
Genauigkeit	0,1 Grad

Methoden zur Kontaktwinkelberechnung

Fowkes-, OWRK-, Zisman-, EOS-, Säure-Base-Theorie, Wu Harmonic Mean und erweiterte Fowkes-Methoden.
(Die Software umfasst eine integrierte-Datenbank mit 37 Flüssigkeiten und ermöglicht Benutzern das Erstellen, Hinzufügen, Löschen oder Bearbeiten von Flüssigkeitseigenschaftsparametern. Die Daten können direkt zur Schätzung der Oberflächenenergie verwendet werden und ermöglichen separate Berechnungen der festen Oberflächenenergie, der Dispersionskraft, der Polarkraft, der Wasserstoffbrückenbindung, der Van-der-Waals-Komponenten, der Lewis-Säure- und der Lewis-Base-Komponenten.)

Dynamische Kontaktwinkelmessung

Fortschrittswinkel, Rückzugswinkel und Hysteresewinkel (unterstützt die Stapelanpassung mehrerer Bilder oder die kontinuierliche Videoanalyse).

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